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富満 広; 長谷川 祐司*; 相澤 一也
Journal of the Physical Society of Japan, Vol.70, Supplement A, p.462 - 464, 2001/05
JRR-3Mに設置したPNO装置でSi製LLL型干渉計を用いて、Al,Nb,Ga,W,Cu及びHgの干渉性散乱長を、それらの同位体(Ca,Ga,Cu,Cu,Hg)と同様に測定し、文献値より高精度の値を得た。実験条件の面で比較すると、試料回転角を狭くすると、多数回測定しても、広い範囲で測定した場合よりも結果がよくないことがわかった。